microbrain非破壞檢測儀器的特點

發(fā)布時間：2022-11-28　點擊量：1013

microbrain非破壞檢測儀器的特點

ZEROS CUSTOM系列產(chǎn)品介紹

檢測透明薄膜中的透明缺陷
透明薄膜缺陷類型與檢測難度的關(guān)系
數(shù)字圖像的高速計算
配備使用數(shù)字圖像的分析功能
配備基于數(shù)字化的測量功能

??ZEROS CUSTOM系列實現(xiàn)透明薄膜的全面檢測

ZEROS CUSTOM 系列旨在成為透明薄膜的綜合檢查機，并且在政府（*1）的支持下研發(fā)，除了已經(jīng)成為重要課題的感官檢查自動化之外，現(xiàn)有檢查能力。本產(chǎn)品中使用的 ZEROS 濾光片和區(qū)域傳感器的高速圖像處理系統(tǒng)有助于提高透明薄膜制造的質(zhì)量、節(jié)省空間和降低成本。(*2)

ZEROS-CUSTOM影像檢測系統(tǒng)

透明薄膜缺陷類型與檢測難度的關(guān)系

*1 戰(zhàn)略性基礎(chǔ)技術(shù)推進支持項目（經(jīng)濟產(chǎn)業(yè)?。?br style="margin: 0px; padding: 0px;"/>*2 根據(jù)薄膜材料和缺陷形狀，可能需要調(diào)查和考慮。

回到頂部

可判定無色透明缺陷的檢測方法“ZEROS Technology"

“ZEROS技術(shù)"是我公司發(fā)明的一種透明缺陷檢測方法。可以瞬間檢測出只有專家用肉眼或用顯微鏡才能看到的無色透明缺陷，并確定缺陷的形狀和面積。

回到頂部

不依賴作業(yè)速度檢測缺陷的“區(qū)域傳感器方式"

與傳統(tǒng)線傳感器使用的信號振幅轉(zhuǎn)換方法不同，面?zhèn)鞲衅魍ㄟ^圖像數(shù)據(jù)的運算處理來檢測缺陷，具有多種優(yōu)勢。

檢測原理對比（打開圖）

	常規(guī)缺陷檢測原理		ZEROS缺陷檢測原理
	用定向光照射透明缺陷并通過改變折射率將其可視化		使用 ZEROS 過濾器可視化透明薄膜中的透明缺陷
	將光強度（亮度）的變化轉(zhuǎn)化為電信號		將可視化圖像轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像
	缺陷檢測具有閾值的電量變化		處理數(shù)字圖像以檢測透明缺陷
	* 還可以對缺陷進行量化和量化，識別缺陷（感官檢驗）。