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硅晶片測溫用輻射溫度計IS12-Si產(chǎn)品介紹

發(fā)布時間:2022-07-04 點擊量:1163

硅晶片測溫用輻射溫度計IS12-Si產(chǎn)品介紹

IS12Si 是用于硅晶片的全數(shù)字輻射溫度計。
最快8毫秒的高速響應和短波長檢測,可以高精度測量硅晶片的溫度。

用途

  • 專為硅晶片設計的輻射溫度計。

特征

  • 1.硅片專用輻射測溫儀

  • 2.由于它具有高速響應能力(最大速度為 10 毫秒),因此適用于溫度變化劇烈的樣品和高速移動的樣品的溫度測量。響應速度可設置為 10s。由于實現(xiàn)了小點測量,即使是小樣本也可以測量。

  • 3.配備 6 種定焦鏡頭和 3 種可動對焦鏡頭,可進行準確的溫度測量。

  • 4.全數(shù)字電路,可實現(xiàn)高精度和穩(wěn)定的無縮放溫度范圍。

  • 5.由于內(nèi)置最大值保持電路,因此也適用于移動物體的測量。

  • 6.您可以在固定焦距鏡頭和可移動焦距鏡頭之間進行選擇。

  • 7.可以使用標配的專用測量軟件(Windows)記錄數(shù)據(jù)并設置參數(shù)。

  • 8.取景器中的焦點可讓您準確了解被測物體的位置。此外,還可以選配用于更精確定位的激光指示燈。

規(guī)格

溫度范圍400-1300℃、400-900℃、350-1000℃、500-1800℃
檢測波長近紅外的窄波長范圍(選擇硅片溫度測量的最佳波長)
  • 該接口可以通過總線連接在RS232和RS485之間切換。



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